EMI Debugging
羅德與施瓦茨公司在EMI測試方面擁有豐富的經驗，並提供廣泛的EMI調試，EMI預合規性和EMI合規性測試解決方案。
使用我們的EMI調試解決方案，儘早驗證您的設計，並確定可能的排放源。 利用我們的多域功能快速找到EMI問題的根本原因，將信號中的時間和頻率域關聯起來。
Analyze EMI problems with the R&S®RTO / R&S®RTE
R＆S®RTO/ R＆S®RTE數字示波器是分析電子設計中EMI問題的重要工具。 高輸入靈敏度，高動態範圍和強大的FFT實現是捕獲和分析無用發射的關鍵特徵。
在調試電磁干擾（EMI）問題時，電子設計工程師面臨著識別無用發射源並為其開發解決方案的挑戰性問題。 通常情況下，EMC測試實驗室返回的唯一信息是頻譜曲線，指示排放量嚴重或違反限值的頻率。 在EMC合規實驗室進行重複性測試以確定並解決問題代價高昂，並且通常會嚴重延遲產品發佈時間。
T&M Solution
R＆S®RTO/ RTE數字示波器是調試設計工程師桌面上的EMI問題的強大工具。結合近場探頭設置，設計人員可以快速定位和分析EMI問題。 1 mV / div的高動態範圍和高輸入靈敏度確保可以分析甚至微弱的輻射。 R＆S®RTO/ RTE快速傅里葉變換（FFT）實現提供了快速更新速率，FFT幀重疊處理和持續顯示允許深入了解無用發射的結構。這有助於設計人員快速檢測排放源。羅德與施瓦茨公司提供緊湊型R＆S®HZ-15近場探頭組，這對嵌入式設計的EMI調試特別有用。該系列中最緊湊的探頭可以捕獲單個電路線路的近場發射。 R＆S®HZ-15覆蓋從30 MHz到3 GHz的頻率範圍。它也可以在30 MHz以下使用，靈敏度降低。如果需要更高的靈敏度，可選的R＆S®HZ-16前置放大器在100 kHz至3 GHz的頻率範圍內提供20 dB的增益。
設置簡單
只需幾個步驟即可為EMI調試會議創造良好的起點：
按“預設”開始一個明確的設置將近場探頭連接到輸入通道將通道的垂直刻度設置為1 mV / div至5 mV / div以獲得高靈敏度，並將耦合設置為50Ω使用FFT工具欄圖標啟用FFT功能通過顯示啟用FFT信號的顏色表▷信號顏色▷啟用顏色表將水平刻度放大至40μs/格，記錄時間較長
高捕獲頻寬和輕鬆的頻域操作
R＆S®RTO/ RTE FFT具有頻譜分析儀的熟悉界面。 FFT設置對話框提供基本的頻譜分析儀控制，如開始和停止頻率以及分辨率帶寬。 在FFT模式下，R＆S®RTO/ RTE會相應地自動調整時域設置。 這使得頻域導航成為一件容易的事。捕獲的時域信號也可用於同時進行分析。 最大FFT捕獲帶寬對應於R＆S®RTO/ RTE型號的帶寬。 例如，R＆S®RTO1044可以快速瀏覽從0Hz到4GHz的所有測試設備發射。
用頻譜分量的彩色編碼顯示重疊FFT實現
R＆S®RTO/ RTE中的重疊FFT實現首先自動將捕獲的時域信號分成重疊段。 第二步，它會計算每個段的FFT，以顯示脈衝類型乾擾信號等間歇性信號。 對產生的譜線根據它們的出現頻率進行顏色編碼使間歇信號可視化。
使用熟悉的頻譜分析儀界面輕鬆駕馭頻域。
使用頻率掩碼功能捕獲零星事件。
用於相關時頻分析的門控FFT
利用門控FFT功能，可以將頻譜分析限制在捕獲的時域信號的用戶定義區域。 過量的光譜輻射可以與信號中的專用時間段相關聯。 典型應用包括無用發射與開關模式電源的快速開關邊沿或總線接口上的數據傳輸的相關性。 在發現問題後，設計工程師可以通過觀察光譜發射的電平變化，輕鬆檢查不同解決方案的有效性，如阻塞電容器或減少上升/下降時間。
用頻率掩模捕獲零星事件
間歇性或偶發性排放是最難調試的。 它們很難被捕獲並且不容易分析。 R＆S®RTO/ RTE遮罩工具可以捕獲這些事件。 一旦遮罩被違反，採集將自動停止，用戶可以調整FFT設置，如分辨率帶寬或門，並使用其他工具（如光標）進行更詳細的分析。
重疊FFT實現
