FPL 頻譜分析儀
產品說明
可靠的射頻性能
R&S®FPL1000 可與高階分析儀相提並論,它在 10 kHz 偏 移 (1 GHz 載波) 時的相位雜訊為 –108 dBc (1 Hz),三階截 止點為 +20 dBm,解析頻寬為 1 Hz 至 10 MHz,顯示平均 雜訊位準為 –167 dBm。上述特性使 R&S®FPL1000 非常適 合在實驗室、產線以及維修任務中使用。1 dB 步進衰減器 (R&S®FPL1-B25 選配) 以及前置放大器 (R&S®FPL1-B22 選 配) 使可用動態範圍以及靈敏度進一步擴展。
訊號分析頻寬 40 MHz
訊號分析頻寬明確頻率範圍,在此頻率範圍內,能夠捕獲特 定時間內所有的位準及相位資訊。R&S®FPL1-B40 選配將分 析頻寬從 10 MHz 擴展到 40 MHz,使 R&S®FPL1000 成為 同級別中唯一能夠在最高 40 MHz 的頻寬下解調類比和數位 調變訊號的儀器。 R&S®FPL1-K7 選配便於您分析類比調變訊號的振幅、頻率及 相位。此外,R&S®VSE-K70 向量訊號分析選配能夠解調單 載波調變訊號並詳細分析。 I/Q 分析儀通常用於數位訊號分析。它可以顯示振幅和相位 參數以及 FFT 頻譜。捕獲的 I/Q 數據可傳給第三
低位準量測不確定度
0.5 dB 的低位準量測不確定度是該級別的儀器的另一個獨 特之處。該儀器的高度量測精準度確保了精確可靠的測試結 果,通常無需額外的功率探棒。
低雜散響應
為了將訊號內雜散與量測儀器的雜散區分開來,需要低雜散 響應。在載波訊號偏移 10 MHz 的範圍內,R&S®FPL1000 的指定雜散響應比訊號位準低 –70 dB。該值比同類分析儀低 10 dB。在更高的偏移下,指定值為 –80 dB,比同類分析儀 低 20 dB。這樣一來,R&S®FPL1000 甚至能夠識別遠低於載 波位準的干擾。
直觀的使用者介 面
高解析度螢幕
10.1" 螢幕具有 1280×800 像素解析度,能夠準確地顯示訊 號。選單觸控按鍵及資訊字段可以按一定方式排列,以便儘 可能高解析度地展示訊號細節。
創新使用者介面
在量測應用中,可通過拖放添加不同的量測項目。合併結果 可按需在螢幕上排列。
靈活的結果排列以及多視圖
簡要技術參數
FPL1000 Specifications | ||
頻率 | ||
頻率範圍 | 5 kHz to 3 GHz | |
年老化率 | 1 × 10–6 | |
with R&S®FPL1-B4 option | 1 × 10–7 | |
頻率解析度 | 0.01 Hz | |
頻寬 | ||
解析頻寬 (–3 dB) | 掃頻濾波器 | 100 kHz to 10 MHz in 1/2/3/5 sequence |
FFT 濾波器 | 1 Hz to 50 kHz in 1/2/3/5 sequence | |
I/Q 解調頻寬 | 10 MHz | |
with R&S®FPL1-B40 option | 40 MHz | |
顯示平均雜訊位準(DANL) | ||
在射頻前置放大器關閉下 | 5 MHz ≤ f < 2 GHz | –152 dBm (typ.) |
射頻前置放大器開啟下(option R&S®FPL1-B22) | 10 MHz ≤ f < 2 GHz | –167 dBm (typ.) |
Intermodulation | ||
1 dB compression of input mixer | +7 dBm (nom.) | |
third-order intercept point (TOI) 300 MHz ≤ fin < 3 GHz | +20 dBm (typ.) | |
相位雜訊 | f = 1 GHz, 10 kHz frequency offset | –108 dBc (1 Hz) (typ.) |
總體量測不確定度 | 1 MHz ≤ f < 3 GHz | 0.5 dB |